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真空镀层车间品质测量仪

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简单介绍

OPTOPLEX II P + 分析软件

产品描述

OPTOPLEX适用干真空镀层车间的测量及分析系统,它适用干真空器内,是无接触、无破坏的光谱测量系统,传送颜色数据,结果都适用干品质的认证及生产过程的优化分析。

OPTOPLEX适用干真空镀层车间的测量及分析系统,它适用干真空器内,是无接触、无破坏的光谱测量系统,传送颜色数据,结果都适用干品质的认证及生产过程的优化分析。OPTOPLEX II P 是专为真空的传送数据而设计的,适用於建筑玻璃、汽车车头(挡风)玻璃、显示器玻璃、亚加力玻璃胶片或塑胶薄膜等工业。系统分别可作单或双镀层的膜厚。

由於系统於镀层生产线上自动收集及传送测量数值,然後显示其电脑图表及数值,系统适合真空房内的玻璃镀层的品质管理。软件包含光谱显示、一个或多光谱趋向的平台。系统传送决定於不同基本光源(A, C or D 65) 及观看角度 (2°或10°) ,使测量光谱曲线修改至符合CIELAB 数据,程式能处理多至10台。

测量速度多至100 点/分钟按型号规格决定,OPTOPLEX Q 规格H、B、C 等,可安装多至3 个量度头2X 反射,1X 透射TUNGSTEN 或 XENONPULSED LAMP波长范围 380-900nm选配 400-1700nm

  • 范围: 380 ... 900 nm
  • 清晰: 10 nm
  • 分光计: 敏二极管排栅分光光度计
  • 光源: 卤灯
  • 色彩数据: Y, L*, a*, b* (CIELAB)
  • 基本光源: A, C, D 65
  • 展示: 光谱曲线、不同的模式趋向分析
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